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HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪
FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。■ FT160可提供:1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度
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HITACHI FT110A XRF萤光镀层厚度测量仪
能精确测量。■ 多镀层测量:最多能够进行5层的多镀层样品测量。■ 广域图像观察:能将样品图像放大5到7倍,并对测量部位精确定位。■ 低成本:较以往机型价格降低了20%。FT110A通过自动定位功能,仅
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XRF镀层测厚仪FT160
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日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪
没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置,另有机仓开放式机种,可对600×600mm的大型印刷
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赛默飞 厚度直接测量仪
Thermo Scientific ™ ShadowMaster 测厚仪对各种材料提供准确、可靠的厚度测量,极大地改善生产过程的控制、改进质量和提高生产率。此测厚仪具有安装快、使用成本低、投资
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浮法玻璃生产线在线厚度应力测量仪
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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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F32 薄膜厚度测量仪
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘
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F20 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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